1. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques
المؤلف: edited by Lawrence C. Wagner
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
2. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques
المؤلف: edited by Lawrence C. Wagner
المکتبة: (طهران)
موضوع: Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability
رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999
3. Integrated circuit failure analysis: a guide to preparation techniques
المؤلف: Beck, Friedrich
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: ، Semiconductors- Failures,، Semiconductors_ Testing
رده :
TK
7871
.
852
.
B43
4. #Semiconductor device and failue analysis
المؤلف: #Wai Kin Chim
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (أصبهان)
موضوع: Semiconductors- Failures ،Semiconductors- Testing ،Semiconductors- Microscopy ،Photon emission
رده :
#
TK
،#.
C47
5. Semiconductor device and failure analysis using photon emission microscopy
المؤلف: / Wai Kin Chim
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: Semiconductors - Failures,Semiconductors - Testing,Semiconductors - Microscopy,Photon emission
رده :
TK781
.
852
.
C47
2000
6. Semiconductor device and failure analysis using photon microscopy
المؤلف: / by Wai Kin Chim
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Semiconductors- Failures,Semiconductors- Testing,Semiconductors- Microscopy,Photon emission
رده :
TK7871
.
85
.
C47
2000
7. The role of microscopy in semiconductor failure analysis
المؤلف: Richards, B. P.
المکتبة: (طهران)
موضوع: Semiconductors - Testing , Semiconductors - Failures , Microscopes
رده :
TK
7871
.
85
.
R464
